數(shù)據(jù)存儲
- 可存儲的讀數(shù)總數(shù)
- 最大批組數(shù)量

2000000
1

統(tǒng)計功能 (每批組)

kvar, n, max., min.
kvar, n, max., min.

校準

出廠校準, 零點和多達四個校準點

測量單位

um, mm, cm, mils, inch

接口

USB

電源

3 x AA (LR06) 電池, USB

每次更換電池的工作時間大約為

150 hours (不使用背光)

規(guī)范和標準

DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882; ISO 19840; ASTM B 244,B 499, D 7091, E376

顯示

53 x 46 mm, 背光

操作溫度 /存儲溫度

–10 °C -60 °C / –20 °C -70 °C

尺寸 / 重量

153 mm x 89 mm x 36 mm/ 320 g (儀器包括電池),橡膠保護套 90 g

防護等級

IP 65

探頭型號

FN 1.6

FN 1.6/90

F 05

F 3

應用:

1.鋼鐵上的非磁性涂層和有色金屬上的絕緣涂層。
2.用于標準應用的全能型。
3.同時供應F1.6版本僅用于在磁性基材上測量或N 1.6 版本僅用于在有色金屬上測量。

1.鋼鐵上的非磁性涂層和有色金屬上的絕緣涂層。
2.特別適合測量管道或難以進入的物體。
3.同時供應僅用于在磁性基材上測量的F 1.6/90 版本或僅用于在有色金屬上測量的版本 N1.6/90 。

1.極薄的有色金屬，氧化物或油漆涂層在小鋼鐵工件上。
2.最高精度用于薄涂層的。

1.鋼鐵上的非磁性涂層，厚涂層和搪瓷涂層。
2.涂層厚度測量的經(jīng)典之作。
　

測量范圍:

0-1600µm

0-1600µm

0-500µm

0-3000µm

低端分辨率:

0.1µm

0.1µm

0.1µm

0.2µm

保證公差(讀數(shù)的):

±(1%+1µm)*

±(1%+1µm)*

±(1%+0.7µm)*

±(1%+1µm)*

最小曲率半徑(凸/凹):

1.5mm凸面/10mm凹面

平面和凸面/6mm凹面

0.75mm凸面/5mm凹面

1.5mm凸面/10mm凹面

最小測量區(qū)域:

?5mm

?5mm

?3mm

?5mm

最小基體厚度:

F0.5mm/N50µm

F0.5mm/N50µm

0.1mm

0.5mm

探頭型號

N 02

N 08.Cr

F 10

應用:

1.非常薄涂層的精確解決方案。
2.非鐵金屬上的絕緣層如漆膜，搪瓷或陽極氧化層，測量分辨率高 (0.1 μm)，并且僅25g的限定跟蹤力。

在銅基板上測量最大厚度為80µm的鍍鉻層的特殊版本，最小基體厚度100µm。

在罐體，管道和集裝箱建筑上類似塑料的厚涂層。

測量范圍:

0-200µm

0-80µm

0-10000µm

低端分辨率:

0.1µm

0.1µm

5µm

保證公差(讀數(shù)的):

±(1%+0.5µm)*

±(1%+1µm/0.04mils)*

±(1%+10µm/0.4mils)*

最小曲率半徑(凸/凹):

1mm凸面/5mm凹面

2.5mm凸面/10mm凹面

5mm凸面/16mm凹面

最小測量區(qū)域:

?2mm

?5mm

?20mm

最小基體厚度:

50µm

100µm

1mm

探頭型號

F 20

F 50

N 10

應用:

管道構造中的厚塑料，橡膠或混凝土層以及耐腐蝕層。

非常厚的耐腐蝕層和防鼓層。

用于測量有色金屬上的橡膠，塑料，玻璃等絕緣層。

測量范圍:

0-20000µm

0-50000µm

0-10000µm

低端分辨率:

10µm

10µm

10µm

保證公差(讀數(shù)的):

±(1%+20µm)*

±(3%+50µm)*

±(1%+25µm)*

最小曲率半徑(凸/凹):

10mm凸面/30mm凹面

50mm凸面/200mm凹面

25mm凸面/100mm凹面

最小測量區(qū)域:

?40mm

?300mm

?50mm

最小基體厚度:

2mm

2mm

50µm

探頭型號

N 20

N 100

F 2 HT

應用:

有色金屬上的絕緣涂層，例如橡膠、塑料、玻璃。

有色金屬上的厚絕緣層和復合材料。

特殊的高溫探頭允許在高達250℃ 或350℃表面溫度的熱表面上進行涂層厚度測量。

測量范圍:

0-20000µm

0-100000µms

0-2000µm

低端分辨率:

10µm

100µm

0.2µm

保證公差(讀數(shù)的):

±(1%+50µm)*

±(1%+0.3µm)*

±(1%+1µm)*

最小曲率半徑(凸/凹):

25mm凸面/100mm凹面

100mm凸面/平面

1.5mm凸面/10mm凹面

最小測量區(qū)域:

?70mm

?200mm

?5mm

最小基體厚度:

50µm

50µm

0.5mm